FT成品測試能力
測 試 機 ：Advantest /Chroma/AccoTest/Juno/PowerTech/AMB/Qstar
分 選 機 ：JHT/ASM/SRM/SHF/SKD/Vitrox/ICOS
溫度範圍 ：20℃~135℃
封裝類型 ：LGA，QFN，QFP，BGA，DFN 等
特殊規格 ：可支持超小腳距、超薄封裝、超高頻段、MEMS 等特殊產品實驗及量產
測試產品 ：數字、模擬、數模混合、射頻、高速接口、無線連接等各類集成電路
CP晶圓測試能力
測 試 機 ：Advantest /Chroma/AccoTest/Juno/PowerTech/AMB/Qstar
探 針 臺 ：TSK/長川
溫度範圍 ：20℃~135℃
晶圓規格 ：6寸，8寸，12寸
特殊規格 ：可支持薄片，破損片等特殊測試
測試產品 ：數字、模擬、數模混合、射頻、高速接口、無線連接等各類集成電路